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嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现

Design and Implementation of On-chip Debug Features in Embedded Processor

作     者:黄海林 范东睿 许彤 朱鹏飞 郑保建 曹非 陈亮 Huang Hailin~(1,2)) Fan Dongrui~(1)) Xu Tong~(1,2)) Zhu Pengfei~(3)) Zheng Baojian~(1)) Cao Fei~(1,2)) Chen Liang~(3))()~(1))(Computer Architecture Laboratory,Institute of Computing Technology,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100080)()~(2))(Graduate University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100039)()~(3))(BLX IC Design Co.,Ltd,Beijing 100080)

作者机构:中国科学院计算技术研究所系统结构研究室北京100080 中国科学院研究生院北京100039 中国科学院计算技术研究所系统结构研究室北京100080 北京神州龙芯集成电路设计有限公司北京100083 

出 版 物:《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期:2006年第18卷第7期

页      面:1005-1010页

核心收录:

学科分类:0809[工学-计算机类] 

基  金:中国科学院知识创新工程项目 国家“八六三”高技术研究发展计划项目(KGCX2-109) 国家“八六三”高技术研究发展计划国际合作项目(20041080) 

主  题:在片调试 IEEE P1149.1 JTAG 龙芯1号处理器 

摘      要:以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.调试主机只需要通过一根JTAG调试电缆就可以访问目标处理器内部寄存器等各种资源,并控制目标处理器的运行过程,实现了处理器的在片调试功能,大大地方便了软件开发与系统调试.

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