咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

CADAL相关文献

文献详情 >高性能通用处理器中的漏电功耗优化 收藏

高性能通用处理器中的漏电功耗优化

Leakage Power Optimization in High Performance General-Purpose Microprocessor Design

作     者:张戈 胡伟武 ZHANG Ge,HU Wei-Wu (1.Key Laboratory of Computer System and Architecture, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080;2.Graduate University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039)

作者机构:中国科学院计算技术研究所 计算机系统结构重点实验室 北京 100080 中国科学院研究生院 北京 100039 

出 版 物:《计算机学报》 (Chinese Journal of Computers)

年 卷 期:2006年第29卷第10期

页      面:1764-1771页

核心收录:

学科分类:0809[工学-计算机类] 

基  金:本课题得到国家“九七三”重点基础研究发展规划项目基金(2005CB321600)和国家“八六三”高技术研究发展计划项目基金(2005AA119020)资助. 

主  题:微处理器设计 低功耗设计 漏电功耗 堆叠效应 模拟退火算法 

摘      要:针对高性能通用处理器的结构特性及设计特点,指出了由于在高性能通用处理器中存在发射宽度较大、数据通路规整的基本特点,其大多数电路中的堆叠效应依然明显存在.由此结合一款高性能通用处理器———龙芯2号的具体设计,对该处理器主要数据通路模块进行了输入向量控制,并提出以“直接观察法、“有效分解法、“操作数隔离复用法、“模拟退火算法等多种技术思想为基础的电路最小漏电功耗分析及优化的实用性方法.实验结果表明,以上方案能够使得处理器的主要数据通路的漏电功耗减少近27%,同时模拟退火算法与以往的随机算法以及遗传算法相比在寻找电路最小漏电功耗的全局搜索能力上具有优势.

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分